图书介绍

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电子显微分析实用方法
  • 吴杏芳,柳得橹编 著
  • 出版社: 北京:冶金工业出版社
  • ISBN:7502422021
  • 出版时间:1998
  • 标注页数:128页
  • 文件大小:12MB
  • 文件页数:134页
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图书目录

1.透射电镜的基本结构和操作1

2.透射电镜的试样制备6

3.选区电子衍射及像转角的测定14

4.电子衍射谱衍射常数的测定17

5.单晶体电子衍射谱的拍摄与分析18

6.菊池花样的分析和应用29

7.晶体取向关系的测定38

8.特征平面的分析39

9.位错线方向及柏氏矢量b的测定42

10.层错性质的判断46

11.薄膜试样厚度的测定50

12.扫描电镜的基本原理与实验方法55

13.块状试样的X射线能谱分析(一)——定性分析61

14.块状试样的X射线能谱分析(二)——定量分析68

15.薄试样的X射线能谱分析77

16.电子能量损失谱分析(EELS)92

17.会聚束电子衍射(CBED)方法103

18.薄试样厚度和消光距离的CBED测定112

19.晶体点群的会聚束衍射测定115

附录120

参考书目128

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