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1概述1

1.1 范围1

1.2 目的1

2引用标准1

3背景2

3.1 天线方向图2

3.2 近场测量基本理论4

3.3 远场与近场测量比较5

3.4 内容提要6

4测量系统7

4.1 机械扫描子系统7

4.1.1 平面近场扫描8

4.1.2 柱面近场扫描9

4.1.3 球面近场扫描9

4.2 典型射频子系统10

4.3 典型数据采集子系统12

4.4 数据处理13

4.5 测量精度13

4.5.1 测量环境13

4.5.2 近场方案的选择和使用14

4.5.3 探头天线的选择14

4.5.4 机械子系统的精度14

4.5.5 射频子系统的精度15

4.6 校正方案16

4.6.1 热漂移校正16

4.6.2 阻抗失配校正17

4.6.3 探头位置校正18

4.6.4 电缆形变校正18

5平面近场扫描20

5.1 引言20

5.1.1 平面矩形法21

5.1.2 平面极坐标和双极坐标法21

5.2 理论概要22

5.2.1 平面波展开22

5.2.2 发射和接收函数22

5.2.3 Kerns传输方程22

5.2.4 探头校正23

5.2.5 离散化与采样准则23

5.2.6 数据处理23

5.3 实施24

5.3.1 测量配置24

5.3.2 探头校正29

5.3.3 归一化31

5.3.4 增益测定32

6柱面近场扫描34

6.1 引言34

6.2 基本理论概要34

6.2.1 柱面波展开34

6.2.2 近远场变换的经典探头补偿36

6.2.3 近远场变换的其他方法37

6.3 实施37

6.3.1 测量配置37

7球面近场扫描41

7.1 引言41

7.2 球面近场理论汇总41

7.2.1 基本理论41

7.3 实施45

7.3.1 探头46

7.3.2 测量配置46

7.3.3 采样准则48

7.3.4 探头校正49

7.3.5 对准要求50

7.3.6 扫描截断51

8探头51

8.1 探头特性52

8.2 探头天线分类与描述55

8.2.1 小振子与小环天线56

8.2.2 开口波导探头56

8.2.3 圆锥和角锥喇叭57

8.2.4 对数周期天线57

8.3 探头参数58

8.4 探头特性58

8.4.1 增益58

8.4.2 极化58

8.4.3 端口间的幅度和相位比58

8.4.4 方向图59

8.4.5 反射系数与端口间隔离59

8.5 探头阵列59

8.5.1 阵列实现60

8.5.2 探头阵列表征61

9不确定度分析62

9.1 引言62

9.2 系统初始调整与测试65

9.3 各项不确定度的估计与表达方法66

9.4 平面、柱面和球面近场测量的各项不确定度评估方法67

9.4.1 探头相对方向图67

9.4.2 探头极化比率68

9.4.3 增益标准69

9.4.4 探头对准69

9.4.5 归一化常数或增益标准远场峰值69

9.4.6 阻抗失配系数70

9.4.7 待测天线对准70

9.4.8 数据点间隔70

9.4.9 测量区域截断72

9.4.10 探头位置误差73

9.4.11 待测天线与探头间的多次反射74

9.4.12 接收机幅度线性度75

9.4.13 系统相位误差76

9.4.14 噪声与接收机动态范围77

9.4.15 环境散射77

9.4.16 串扰与泄漏78

9.4.17 随机误差79

9.5 合成不确定度79

10专题80

10.1 等效全向辐射功率80

10.2 饱和能流密度81

10.3 脉冲测量技术81

10.4 相位恢复方法82

10.5 反投影82

10.5.1 平面83

10.5.2 非平面83

10.6 探头位置校正83

10.7 截断抑制84

10.8 近场天线测量的时域门85

11总结85

12参考文献85